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Détecteur à dérive en silicium (SDD) X-PIPS™

X pips sdd 002

Le détecteur X-PIPS est un sous-système de spectrométrie sensible aux rayons X et aux rayons gamma basse énergie. Il est constitué d’un détecteur à dérive en silicium (SDD) hermétiquement scellé, d’un préamplificateur CMOS à faible bruit avec mécanisme de réinitialisation et d’un système de refroidissement Peltier.

Tag Caractéristiques

Le détecteur est constitué des éléments suivants :

  • Détecteur à dérive au silicium (SDD)
  • Fenêtre en béryllium
  • Préamplificateur CMOS
  • Refroidisseur Peltier à faible consommation d’énergie

Description

Le détecteur X-PIPS est un sous-système de spectrométrie sensible aux rayons X et aux rayons gamma basse énergie. Il est constitué d’un détecteur à dérive au silicium (SDD) hermétiquement scellé, d’un préamplificateur CMOS à faible bruit avec mécanisme de réinitialisation et d’un refroidisseur Peltier. L’élément détecteur et le préamplificateur CMOS sont refroidis. La fenêtre d’entrée en béryllium est une fenêtre standard de 0,5 mil.

Le préamplificateur est doté d’un mécanisme de réinitialisation offrant un temps de réinitialisation rapide et d’excellentes performances de taux de comptage.

La résolution en énergie est garantie à une température de fonctionnement standard dans une plage de température ambiante comprise entre +10°C et +30°C.

Le détecteur X-PIPS est doté d’un collimateur multicouche interne pour un rapport pic/bruit de fond amélioré.

Performances

  • Zone active : 25 mm ²
  • Zone active collimatée : 15 mm ²
  • Épaisseur : 0,5 mm
  • Résolution type : 127eV (FWHM)*
  • Gamme d’énergie : 1 à 30 keV
  • ΔT> 75K à une température de 30°C

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